Lataa...
Speckle metrology /
Muut tekijät: | |
---|---|
Aineistotyyppi: | Printed Book |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
New York :
Marcel Dekker,
c1993.
|
Sarja: | Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ;
v. 38. |
Aiheet: | |
Linkit: | Publisher description |