Lanean...

Linear and Nonlinear Models for the Analysis of Repeated measurements

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Vonesh, Edward,F and Chinchilli, Vernon,M
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York: Marcel Dekker, INC., 1997.
Edizioa:1997.
Gaiak: