In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss.

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: Auciello, Orlando, Krauss, Alan Robert
Định dạng: Printed Book
Được phát hành: New York : Wiley, c2001.
Những chủ đề:
Thin films.
Truy cập trực tuyến:http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

Internet

http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

Những quyển sách tương tự