In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss.

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Auciello, Orlando, Krauss, Alan Robert
פורמט: Printed Book
יצא לאור: New York : Wiley, c2001.
נושאים:
Thin films.
גישה מקוונת:http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

אינטרנט

http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

פריטים דומים