In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss.

Podrobná bibliografie
Další autoři: Auciello, Orlando, Krauss, Alan Robert
Médium: Printed Book
Vydáno: New York : Wiley, c2001.
Témata:
Thin films.
On-line přístup:http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

Internet

http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00025162.html
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00025162.html

Podobné jednotky