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Thin film analysis by X-ray scattering /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Birkholz, Mario
Altri autori: Fewster, Paul F., Genzel, Christoph
Natura: Printed Book
Pubblicazione: Weinheim : Wiley-VCH, c2006.
Soggetti:
Thin films.
X-ray spectroscopy.
Accesso online:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-b.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-d.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-t.html
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