Загрузка...

Thin film analysis by X-ray scattering /

Библиографические подробности
Главный автор: Birkholz, Mario
Другие авторы: Fewster, Paul F., Genzel, Christoph
Формат: Printed Book
Опубликовано: Weinheim : Wiley-VCH, c2006.
Предметы:
Online-ссылка:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-b.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-d.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482582-t.html
Описание
Объем:xxii, 356 p. : ill. ;
Библиография:Includes bibliographical references and index.
ISBN:3527310525
9783527310524