Ga door naar de inhoud
VuFind
Taal
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Patent System Measurements : R...
Citeren
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
permanent_link
Wordt geladen...
Patent System Measurements : Review, Critique
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:
Deli Yang
Taal:
Undetermined
Onderwerpen:
Innovation
Patent System Measurement
Strategic Patent
Patent
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
University of Kerala
Exemplaargegevens van University of Kerala
Gelijkaardige items
Software Patents
door: Stobbs,Gregory A.
Gepubliceerd in: (2000)
Patent law
door: Narayanan, P.
Gepubliceerd in: (2006)
Patents Myths and reality /
door: Vandana Shiva
Gepubliceerd in: (2001)
Law of patents:a prologue
Gepubliceerd in: (2007)
Patents for future /
door: Zaveri, N. B.
Gepubliceerd in: (2001)
Wordt geladen...