Φορτώνει......

Patent System Measurements : Review, Critique

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Deli Yang
Γλώσσα:	Undetermined
Θέματα:	Innovation Patent System Measurement Strategic Patent Patent

Παρόμοια τεκμήρια