Anar al contingut
VuFind
Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Patent System Measurements : R...
Citar
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
permanent_link
Carregant...
Patent System Measurements : Review, Critique
Dades bibliogràfiques
Autor principal:
Deli Yang
Idioma:
Undetermined
Matèries:
Innovation
Patent System Measurement
Strategic Patent
Patent
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
University of Kerala
Detall dels fons de University of Kerala
Ítems similars
Software Patents
per: Stobbs,Gregory A.
Publicat: (2000)
Patent law
per: Narayanan, P.
Publicat: (2006)
Patents Myths and reality /
per: Vandana Shiva
Publicat: (2001)
Law of patents:a prologue
Publicat: (2007)
Patents for future /
per: Zaveri, N. B.
Publicat: (2001)
Carregant...