Cargando...

Patent System Measurements : Review, Critique

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Deli Yang
Idioma:Undetermined
Subjects:
LEADER 00574nab a2200169Ia 4500
008 170811c99999999xx |||||||||||| ||und||
100 |a Deli Yang 
245 |a Patent System Measurements : Review, Critique 
300 |a 7-19 
653 |a  Innovation 
653 |a  Patent System Measurement 
653 |a  Strategic Patent 
653 |a Patent  
773 |t Journal of Intellectual Property Rights   |g Vol. 17 No. 1 (January) 2012 
942 |c ART 
999 |c 178563  |d 178563 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 244411  |a LIB  |b LIB  |d 2017-08-13  |h Vol. 17 No. 1 (January) 2012  |r 2017-08-13  |w 2017-08-13  |y ART