Wordt geladen...

Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th birthday /

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Nakamura, Syouji (Redacteur)
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Singapore: world scientific, 2014.
Onderwerpen:

University of Calicut

Exemplaargegevens van University of Calicut
Plaatsingsnummer: 518 NAK/R
Kopie Status is onbeschikbaar