Carregant...

Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th birthday /

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Nakamura, Syouji (Editor)
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: Singapore: world scientific, 2014.
Matèries:

University of Calicut

Detall dels fons de University of Calicut
Signatura: 518 NAK/R
Còpia Comprovació en temps real no disponible