Ładuje się......

Applied Logistic Regression

Opis bibliograficzny
1. autor: Hosmer,David W
Kolejni autorzy: Lameshow,Stanley
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York John Wiley & Sons 2000
Wydanie:2nd

University of Calicut

Szczegóły zapisu University of Calicut
Sygnatura: 519.5 HOS/A
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana