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Applied Logistic Regression

Détails bibliographiques
Auteur principal: Hosmer,David W
Autres auteurs: Lameshow,Stanley
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York John Wiley & Sons 2000
Édition:2nd

University of Calicut

Informations d'exemplaires de University of Calicut
Cote: 519.5 HOS/A
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