Načítá se...

Applied Logistic Regression

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Hosmer,David W
Další autoři: Lameshow,Stanley
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York John Wiley & Sons 2000
Vydání:2nd

University of Calicut

Informace o exemplářích z: University of Calicut
Signatura: 519.5 HOS/A
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost