Loading...

Applied Logistic Regression

Bibliographic Details
Main Author: Hosmer,David W
Other Authors: Lameshow,Stanley
Format: Printed Book
Language:English
Published: New York John Wiley & Sons 2000
Edition:2nd
LEADER 00554nam a22001817a 4500
008 180612s9999 000 0 eng
020 |a 0471356328 
041 |a Eng 
082 |a 519.5 
100 |a Hosmer,David W 
245 |a Applied Logistic Regression 
250 |a 2nd 
260 |a New York  |b John Wiley & Sons  |c 2000 
300 |a 375p  |b HB 
700 |a Lameshow,Stanley 
942 |2 ddc  |c BK 
999 |c 270339  |d 270339 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 519_500000000000000_HOS_A  |7 0  |9 304368  |a ASC  |b ASC  |c ST1  |d 2018-09-05  |g 0.00  |l 0  |o 519.5 HOS/A  |p ASC3594  |r 2018-08-20  |w 2018-08-20  |y BK