Ładuje się......

Applied Logistic Regression

Opis bibliograficzny
1. autor: Hosmer, David W
Kolejni autorzy: Lemeshow, Stanley
Format: Printed Book
Wydane: New York John Wiley
Wydanie:Second

University of Calicut

Szczegóły zapisu University of Calicut
Sygnatura: 520 HOS/A
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana