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Applied Logistic Regression

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W
Outros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Printed Book
Publicado em: New York John Wiley
Edição:Second
Search Result 1
por Hosmer, David W.
Publicado em 2013
Printed Book
Search Result 2
por Hosmer,David W
Publicado em 2000
Printed Book
Search Result 3
por Hosmer, David W.
Publicado em 1989
Printed Book
Search Result 4