Wordt geladen...

Applied Logistic Regression

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Hosmer, David W
Andere auteurs: Lemeshow, Stanley
Formaat: Printed Book
Gepubliceerd in: New York John Wiley
Editie:Second
Search Result 1
door Hosmer, David W.
Gepubliceerd in 2013
Printed Book
Search Result 2
door Hosmer,David W
Gepubliceerd in 2000
Printed Book
Search Result 3
door Hosmer, David W.
Gepubliceerd in 1989
Printed Book
Search Result 4