Lanean...

Applied Logistic Regression

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Hosmer, David W
Beste egile batzuk: Lemeshow, Stanley
Formatua: Printed Book
Argitaratua: New York John Wiley
Edizioa:Second
Search Result 1
nork Hosmer, David W.
Argitaratua 2013
Printed Book
Search Result 2
nork Hosmer,David W
Argitaratua 2000
Printed Book
Search Result 3
nork Hosmer, David W.
Argitaratua 1989
Printed Book
Search Result 4