Hosmer, D. W., & Lemeshow, S. Applied Logistic Regression (Second.). John Wiley.
Chicago Style citaatHosmer, David W., en Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. New York: John Wiley.
MLA citatieHosmer, David W., en Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. John Wiley.
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.