APA Citatie

Hosmer, D. W., & Lemeshow, S. Applied Logistic Regression (Second.). John Wiley.

Chicago Style citaat

Hosmer, David W., en Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. New York: John Wiley.

MLA citatie

Hosmer, David W., en Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. John Wiley.

Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.