Hosmer, D. W., & Lemeshow, S. Applied Logistic Regression (Second.). John Wiley.
Style de citation ChicagoHosmer, David W., et Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. New York: John Wiley.
Style de citation MLAHosmer, David W., et Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. John Wiley.
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