Hosmer, D. W., & Lemeshow, S. Applied Logistic Regression (Second.). John Wiley.
Παραπομπή Chicago StyleHosmer, David W., και Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. New York: John Wiley.
Παραπομπή MLAHosmer, David W., και Stanley Lemeshow. Applied Logistic Regression. Second. John Wiley.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.