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High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures /

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Pietsch, Ullrich
Altri autori: Baumbach, Tilo, Holý, Václav
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: New York : Springer, c2004.
Edizione:2nd ed.
Soggetti:
Accesso online:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-t.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-d.html

Accesso online

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-t.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-d.html

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