High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures /

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Pietsch, Ullrich
Další autoři: Baumbach, Tilo, Holý, Václav
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York : Springer, c2004.
Vydání:2nd ed.
Témata:
Nanostructured materials.
Thin films > Optical properties.
X-rays > Diffraction.
X-rays > Scattering.
On-line přístup:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-t.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-d.html

Internet

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-t.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0817/2003070360-d.html

University of Calicut

Informace o exemplářích z: University of Calicut
Signatura: 530.4175 PIE/H
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky