Đang tải...
Computed elctron micrographs and defect identification/
Tác giả chính: | |
---|---|
Định dạng: | Printed Book |
Được phát hành: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
Số hiệu: |
530.41 HEA/C |
---|---|
Sao chép | Trạng thái trực tiếp không khả dụng |