Yüklüyor......
Computed elctron micrographs and defect identification/
Yazar: | |
---|---|
Materyal Türü: | Printed Book |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
Yer Numarası: |
530.41 HEA/C |
---|---|
Kopya Bilgisi | Konumu erişilebilir değil. |