Ładuje się......
Computed elctron micrographs and defect identification/
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Wydane: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
| Sygnatura: |
530.41 HEA/C |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |