Wordt geladen...
Computed elctron micrographs and defect identification/
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Gepubliceerd in: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
| Plaatsingsnummer: |
530.41 HEA/C |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |