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Computed elctron micrographs and defect identification/
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Publié: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
| Cote: |
530.41 HEA/C |
|---|---|
| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |