Načítá se...
Computed elctron micrographs and defect identification/
Hlavní autor: | |
---|---|
Médium: | Printed Book |
Vydáno: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
Signatura: |
530.41 HEA/C |
---|---|
Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |