Carregant...
Computed elctron micrographs and defect identification/
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Publicat: |
N Y
North-Holland
1973
|
University of Calicut
| Signatura: |
530.41 HEA/C |
|---|---|
| Còpia | Comprovació en temps real no disponible |