Styl cytowania APA

STRONG,ALVIN W. RELIABILITY WEAR OUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES (1st ED.). Wiley.

Styl cytowania Chicago

STRONG,ALVIN W. RELIABILITY WEAR OUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES. 1st ED. Wiley.

Styl cytowania MLA

STRONG,ALVIN W. RELIABILITY WEAR OUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES. 1st ED. Wiley.

Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..