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Ellipsometry at the nanoscale/

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
Formato: Printed Book
Publicado em: New York : Springer, 2012.
Assuntos:

MG University

Detalhes do Exemplar MG University
Área/Cota: 620.112 95 Q32
Cód. Barras: Informação em tempo real indisponível