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Ellipsometry at the nanoscale/

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
Format: Printed Book
Publié: New York : Springer, 2012.
Sujets:

MG University

Informations d'exemplaires de MG University
Cote: 620.112 95 Q32
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