Φορτώνει......

Ellipsometry at the nanoscale/

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
Μορφή: Printed Book
Έκδοση: New York : Springer, 2012.
Θέματα:

MG University

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από MG University
Ταξιθετικός Αριθμός: 620.112 95 Q32
Αντίγραφο Η τρέχουσα κατάσταση είναι άγνωστη