Načítá se...

Ellipsometry at the nanoscale/

Podrobná bibliografie
Další autoři: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
Médium: Printed Book
Vydáno: New York : Springer, 2012.
Témata:

MG University

Informace o exemplářích z: MG University
Signatura: 620.112 95 Q32
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost