تحميل...

Ellipsometry at the nanoscale/

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
التنسيق: Printed Book
منشور في: New York : Springer, 2012.
الموضوعات:

MG University

تفاصيل المقتنيات من MG University
رقم الطلب: 620.112 95 Q32
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة