Ellipsometry at the nanoscale/

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Losurdo, Maria, Ed, Hingerl, Kurt, Ed
Formato: Printed Book
Publicado: New York : Springer, 2012.
Subjects:
Ellipsometry.
Descripción
Descrición Física:xxiv, 730p.
Bibliografía:Includes bibliographical references.
ISBN:9783642339554

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