Losurdo, M., & Hingerl, K. (2012). Ellipsometry at the nanoscale. Springer.
シカゴスタイル引用形Losurdo, Maria, , Kurt Hingerl. Ellipsometry at the Nanoscale. New York: Springer, 2012.
MLA引用形式Losurdo, Maria, , Kurt Hingerl. Ellipsometry at the Nanoscale. Springer, 2012.
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