Načítá se...
Confidence intervals for process capability indices with respect to random effects models and autocorrelated data/
Hlavní autor: | |
---|---|
Korporativní autor: | |
Další autoři: | |
Médium: | Ph.D Thesis |
Vydáno: |
Kottayam:
Mahatma Gandhi University,
2013
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://www.mgutheses.in/page/?q=T%202300&search=&page=1&rad=acc |
Internet
http://www.mgutheses.in/page/?q=T%202300&search=&page=1&rad=accMG University
Signatura: |
RT 519.537 Q3 |
---|---|
Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |