טוען...

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Pecharsky, Vitalij K; Author, Zavalij, Peter Y; Author
פורמט:	Printed Book
יצא לאור:	New York, Springer 2009
מהדורה:	2nd ed
נושאים:	Powders-Optical properties-Measurement X-ray Crystallography X-rays-Diffraction-Measurement

פרטי מלאי ספרים מ MG University
סימן המיקום:	548.83 P9
עותק	סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים