Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Pecharsky, Vitalij K; Author, Zavalij, Peter Y; Author
Format: Printed Book
Veröffentlicht: New York, Springer 2009
Ausgabe:2nd ed
Schlagworte:
Powders-Optical properties-Measurement
X-ray Crystallography
X-rays-Diffraction-Measurement

MG University

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Signatur: 548.83 P9
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