Przejdź do treści
VuFind
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Semiconductor materials: chara...
Cytować
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
permanent_link
Ładuje się......
Semiconductor materials: characterization techniques
Opis bibliograficzny
1. autor:
Vaya, P R; Ed
Format:
Printed Book
Wydane:
Madras, Narosa Publishing
1993
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
MG University
Szczegóły zapisu MG University
Sygnatura:
621.381 52 N3
Egzemplarz
Możliwość dostępu nieznana
Podobne zapisy
Semiconductor Materials:Characterization Techniques
od: Vaya,P.R
Wydane: (1993)
Semiconductor material and device characterization /
od: Schroder, Dieter K.
Wydane: (1998)
Semiconductor material and device characterization /
od: Schroder, Dieter K.
Wydane: (2006)
Semiconductor materials: characterization techniques
Wydane: (1993)
Characterization of semiconductor materials A basic course for engineers and technicians /
od: Kane, Philip F.
Wydane: (1970)
Ładuje się......