Přeskočit na obsah
VuFind
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Semiconductor materials: chara...
Vytvořit citaci
Poslat emailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
permanent_link
Načítá se...
Semiconductor materials: characterization techniques
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Vaya, P R; Ed
Médium:
Printed Book
Vydáno:
Madras, Narosa Publishing
1993
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
MG University
Informace o exemplářích z: MG University
Signatura:
621.381 52 N3
Jednotka
Neznámá aktuální dostupnost
Podobné jednotky
Semiconductor Materials:Characterization Techniques
Autor: Vaya,P.R
Vydáno: (1993)
Semiconductor material and device characterization /
Autor: Schroder, Dieter K.
Vydáno: (1998)
Semiconductor material and device characterization /
Autor: Schroder, Dieter K.
Vydáno: (2006)
Semiconductor materials: characterization techniques
Vydáno: (1993)
Characterization of semiconductor materials A basic course for engineers and technicians /
Autor: Kane, Philip F.
Vydáno: (1970)
Načítá se...