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Random testing of digital circ...
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Random testing of digital circuits: theory and applications
書目詳細資料
主要作者:
David, Rene; Author
格式:
Printed Book
出版:
New York, Marcel Dekker
1998
主題:
Digital integrated circuits; Testing
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實物特徵
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MG University
持有資料詳情 MG University
索引號:
621.381 5 N8
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