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Random testing of digital circuits: theory and applications
Autor principal: | |
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Formato: | Printed Book |
Publicado em: |
New York, Marcel Dekker
1998
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Assuntos: |
MG University
Área/Cota: |
621.381 5 N8 |
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Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |