Random testing of digital circuits: theory and applications

Opis bibliograficzny
1. autor: David, Rene; Author
Format: Printed Book
Wydane: New York, Marcel Dekker 1998
Hasła przedmiotowe:
Digital integrated circuits; Testing

MG University

Szczegóły zapisu MG University
Sygnatura: 621.381 5 N8
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana

Podobne zapisy