טוען...

Random testing of digital circuits: theory and applications

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	David, Rene; Author
פורמט:	Printed Book
יצא לאור:	New York, Marcel Dekker 1998
נושאים:	Digital integrated circuits; Testing

פרטי מלאי ספרים מ MG University
סימן המיקום:	621.381 5 N8
עותק	סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים